ESKATU INFORMAZIOA

 
BERRIAK

Hemen aurki ditzakezu IDEKOri buruzko azken berriak

IDEKOk fotogrametrian egindako azken aurrerapenak erakutsi ditu Espainiako Metrologia Kongresuan

IDEKOk fotogrametrian egindako azken aurrerapenak erakutsi ditu Espainiako Metrologia Kongresuan
  • Joan den astean, IDEKOk parte hartze nabarmena izan zuen Espainiako Metrologia Kongresuaren (CEM) aurtengo edizioan, Avilan, irailaren 26tik 29ra. 
  • Biltzarrean, Pablo Puerto ikertzaileak fotogrametria eramangarriko sistema berri baten emaitzak aurkeztu zituen, Alemaniako PTB zentro teknologikoarekin lankidetzan                                                                                                                                                                                              

IDEKO zentro teknologikoak doitasunaren esparruan aurrera egiten jarraitzen du, fotogrametriako teknologian oinarritutako ikusmen-sistemetan espezializatzeko apustu sendoa eginez. Teknika horrek objektuak hiru dimentsiotan neurtzeko aukera ematen du, kamera digitalekin hartutako irudiak prozesatuz.

Ildo horretan, zentro teknologikoak Espainiako Metrologia Biltzarrarenzazpigarren edizioan parte hartu zuen joan den astean, doitasunezko fotogrametrian oinarritutako txosten bat aurkezteko. Zehazki, IDEKOko doitasun ingeniaritzako ikertzaileak, Pablo Puertok, zentroak metrologia dimentsionalaren arloan erreferentea den Alemaniako PTB institutuarekin duen lankidetzaren barruan lortutako emaitzak azaldu zituen.

“Fotogrametria bidez bolumen handiak neurtzeko estrategiak” izeneko lanaren aurkezpenean, VSET sistema eramangarriaren doitasunezko prestazioak erakutsi zituen Puertok, fotogrametriako 3D ikusmeneko teknologian oinarritutako neurketa sistema, IDEKOk garatua oso-osorik. Ikerketa horretan, laser-tracker ekipoen berezko egiaztapen prozesuak eta ekipamendua hartu dira ebaluazio erreferentzia gisa, Soraluceren tamaina handiko makina-erremintek fabrikatutako piezak dimentsioen kontrolerako eta doikuntzarako prozesuetara bideratua,  fresatzeko, mandrinatzeko eta torneatzeko teknologian munduko liderra baita. IDEKOko Pablo Puerto eta Alberto Mendikutez gain, PTBko Daniel Heiاelmann eta Simon Mullerrek ere parte hartu dute ikerketa horretan.

Bi zentroen arteko lankidetzari esker, Puertok hitzaldian azaldu zuenez, “IDEKOk Soraluceren pieza handietarako garatutako VSET sistema eramangarria neurtzeko ziurgabetasuna egiaztatu ahal izan dugu, 12 metrorainoko luzerako barra kalibratuak dituen artefaktu bat erabiliz (Reference Wall, PTBen)”.

Era berean, metrologiaren eta fotogrametriaren arloan, euskal zentroko ikertzaileak Londresko (Erresuma Batua) University College Londoneko Stuart Robson laborategira hurbildu ziren duela aste gutxi. Laborategi hori nazioarteko erreferente nagusietako bat da 3D fotogrametrian eta dimentsio handiko osagaien dimentsio metrologian, eta DynaMITE proiektuaren esparruan ere parte hartzen dute. Bisitan, ikertzaileek teknologia fotogrametikoaren doitasun eta abiadura mugak bilatzea ahalbidetuko dieten gaitasunak eta tresnak bateratzeko aukera izan zuten, eta, gainera, sektore aeronautikorako erakusle bati buruzko emaitza onak lortu zituzten laser-tracker ekipamenduarekin alderatuta.

Doitasunezko fotogrametriaz haratago, zentroak teknologia desberdinekiko zehar-doitasunaren alde egiten duen apustu hori da, Adimen Artifizialarekin (IA) batera, zentro teknologikoaren ikerketa ardatz nagusietako bat datozen urteetarako.

Espainiako Metrologia Kongresuari buruz (CEM)

Ekitaldia Espainiako Metrologia Zentroak antolatu zuen Gaztela eta Leongo Juntarekin elkarlanean, eta irailaren 26tik 29ra egin zen Avilan. "Metrologia digitalizazioaren eta jasangarritasunaren aroan" izenburupean, ekitaldiaren zazpigarren edizioak 90 saio izan zituen, horien artean IDEKOrena, 5 mahai-inguru eta 3 osoko bilkura.

Topaketa honen helburua erakunde, industria, unibertsitate eta administrazioetako adituen artean neurketa tekniketako eta teknologia berriak metrologian, egungo araudi metrologikoetan edo garatzen ari diren araudietan sartzeko azken garapenetako elkargune bat sortzea da.

Gainera, ekitaldiaren edizio hau era guztietako soluzioen erakusleiho izan da, hala nola, sentsore adimendunak, teknologia kuantikoak, fotonika, big data eta metrologia zerbitzuak iraultzeko dituen aukerak.

    NABARMENDUTAKO BERRIAK

    KATEGORIAK