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IDEKO muestra sus últimos avances en fotogrametría en el Congreso Español de Metrología

IDEKO muestra sus últimos avances en fotogrametría en el Congreso Español de Metrología
La semana pasada IDEKO contó con una participación destacada en la reciente edición del Congreso Español de Metrología (CEM), que tuvo lugar en Ávila del 26 al 29 de septiembre

Durante el congreso, el investigador Pablo Puerto presentó los resultados de un novedoso sistema de fotogrametría portable en colaboración con el centro tecnológico alemán PTB

 

El centro tecnológico IDEKO continúa avanzando en el ámbito de la precisión, con una apuesta firme de especialización en sistemas de visión basadas en tecnología de fotogrametría, técnica que permite la medición tridimensional precisa de objetos mediante el procesamiento de imágenes capturadas con cámaras digitales.

En este sentido, el centro tecnológico participó la semana pasada en la séptima edición del Congreso Español de Metrología para presentar una ponencia enfocada en fotogrametría de precisión. En concreto, el investigador de ingeniería de precisión de IDEKO, Pablo Puerto, expuso los resultados obtenidos dentro de la colaboración que el centro mantiene con el PTB, instituto alemán referente en el campo de la metrología dimensional.

Durante la presentación del trabajo, titulado “Estrategias de medición de grandes volúmenes mediante fotogrametría”, Puerto mostró las prestaciones de precisión del sistema portable VSET, un sistema de medición basado en tecnología de visión 3D de fotogrametría, íntegramente desarrollado por IDEKO. En esta investigación se han tomado como referencia de evaluación a procesos y equipamiento de verificación propios de equipos láser-tracker, orientado a los procesos de control dimensional y puesta a punto de piezas fabricadas por máquinas-herramienta de grandes dimensiones de Soraluce, líder mundial en tecnología de fresado, mandrinado y torneado. Además de Pablo Puerto y Alberto Mendikute de IDEKO, en esta investigación también han participado Daniel Heißelmann y Simon Muller del PTB.

Gracias a la colaboración entre ambos centros, según explicó durante su disertación Puerto, “hemos conseguido comprobar la incertidumbre de medición del sistema portable VSET desarrollado por IDEKO para grandes piezas de Soraluce, mediante el uso de un artefacto con barras calibradas de hasta 12m de longitud -Reference Wall en el PTB-”.

Además, en el ámbito de la metrología y fotogrametría, investigadores del centro vasco se acercaron hace pocas semanas al laboratorio Stuart Robson de la University College London en Londres (Reino Unido), uno de los principales referentes internacionales en fotogrametría 3D y metrología dimensional de componentes de grandes dimensiones con los que también colaboran en el marco del proyecto DynaMITE.

Durante la visita, los investigadores tuvieron la oportunidad de poner en común capacidades y herramientas que les permitirán buscar los límites de precisión y velocidad de la tecnología fotogramétrica, obteniendo, además, resultados satisfactorios sobre un demostrador para el sector aeronáutico en comparación con equipamiento láser-tracker.

Más allá de la fotogrametría de precisión, esta apuesta del centro por la precisión transversal a diferentes tecnologías es, junto a la Inteligencia Artificial (IA), uno de los ejes prioritarios de investigación del centro tecnológico de cara a los próximos años.

Sobre el Congreso Español de Metrología (CEM)

El evento, organizado por el Centro Español de Metrología en colaboración con la Junta de Castilla y León, se celebró del 26 al 29 de septiembre en Ávila. Bajo el título “La metrología en la era de la digitalización y la sostenibilidad”, la séptima edición del evento contó un total de 90 sesiones -entre ellas la de IDEKO-, 5 mesas redondas y 3 sesiones plenarias.

El objetivo de este encuentro es generar un espacio de encuentro para la puesta en común entre expertos de instituciones, industrias, universidades y administraciones de los últimos desarrollos en técnicas de medida y en la incorporación de las nuevas tecnologías a la metrología, así como en las normativas metrológicas actuales o en desarrollo.

Además, esta edición del evento ha servido de escaparate para todo tipo de soluciones como sensores inteligentes, tecnologías cuánticas, fotónica, big data y sus posibilidades para revolucionar los servicios de metrología.

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